Täällä ifm:llä me haluamme, että voit luottaa lämpötilainstrumentteihisi aivan kuin mekin omiimme. Testaamme jokaisen TCC-anturin perinpohjaisesti, jotta voimme olla varmoja siitä, että valmistamamme lämpötila-anturit ovat tänäänkin markkinoiden stabiileimpia, luotettavimpia ja tarkimpia.
ifm:n kalibrointilaboratorio on A2LA:n akkreditoima kansainvälisen, maailman tiukimpana pidetyn mittausalan laatustandardin ISO 17025 mukaisesti. Tässä laboratoriossa käytetty välineistö on jäljitettävissä NIST-standardien mukaisesti ja se on kopioitu tuotantolinjoihimme. Kalibrointilaboratoriossamme testasimme TCC-tuoteperheen suorituskykyä suhteessa ilmoitettuihin data-arvoihin varmistaaksemme tuotteidemme tarkkuuden ja luotettavuuden. Sen jälkeen vertasimme TCC-tuoteperheen suorituskykyä kolmen muun tärkeimmän valmistajan tuotteisiin.
Sijoitimme jokaiselta valmistajalta 15 uutta, stressitöntä instrumenttia testilaitteistoomme 5 eri lämpötilassa (5 °C, 20 °C, 65 °C, 95 °C ja 123 °C). Kaavion jokainen piste edustaa datapistettä ja vaakaviivat edustavat valmistajien datalehdillään ilmoittamia arvoja.TCC-sarjan erittäin pieni hajonta on osoitus valmistusprosessimme ohjauksen hyvästä tarkkuudesta.
Toistotarkkuus ilmaisee sen, miten luotettava anturin minä tahansa hetkenä osoittama mittaustulos on. Tässä se esitetään kaikkien näytteiden keskiarvotarkkuuden ja yksittäisten mittaustulosten välisenä erona. TCC-mallien toistotarkkuus on alle 0,015 °C, joten voit olla joka hetki varma mittaustulosten luotettavuudesta.
Ympäristölämpötilan muuttuminen saattaa aiheuttaa anturien elektroniikassa ryömintää, joka mahdollisesti vaikuttaa mittausarvojen tarkkuuteen. Ideaalitapauksessa ympäristölämpötilan ei pitäisi mitenkään vaikuttaa mittaustarkkuuteen. Valmistajat määrittelevät tuotteilleen ympäristölämpötilojen noususta tai laskusta aiheutuvan sallitun maksimipoikkeaman. Me viittaamme tähän spesifikaatioon termillä "lämpötilakerroin", mutta muut valmistajat saattavat käyttää tässä kohdassa erilaista terminologiaa.
Ympäristölämpötilan vaikutuksen testaamiseksi korvaamme anturin päässä olevan RTD-elementin kiinteällä vastuksella, joka simuloi stabiilia prosessilämpötilaa. Sen jälkeen anturi sijoitetaan lämpökaappiin -50 °C, 25 °C, ja 85 °C lämpötiloihin muuttuvien prosessilämpötilojen vaikutuksen mittaamiseksi. Taulukon jokainen piste edustaa mittaustulosta ja vaakaviivat edustavat datalehdillä julkaistuja spesifikaatioita.