Nowy Dualis: zwraca uwagę na każdy szczegół powierzchni i konturów zewnętrznych
- Możliwość łączenia inspekcji 2D powierzchni i konturów w celu zapewnienia maksymalnej jakości
- Przyjazne dla użytkownika oprogramowanie upraszcza konfigurację zadań kontrolnych
- Potężne algorytmy sprostają nawet wygórowanym wymaganiom
- Niezawodne działanie w zmiennych warunkach oświetlenia
- Monitorowanie niedopasowania zapewnia niezawodną kontrolę jakości
Odporny na światło obce ekspert w szukaniu i znajdywaniu
Brakujące klipsy mocujące, niewłaściwie wyfrezowane gwinty, zbyt duża ilość kleju lub niewłaściwie ukształtowane elementy: nowy Dualis z łatwością wykrywa to wszystko – jak również wszelkie inne odchylenia obiektu od określonych warunków docelowych. Powierzchnie, kontury, pominięcia lub rotację obiektów można sprawdzać i oceniać pojedynczo lub łącznie. Dzięki zintegrowanemu filtrowi światła dziennego, Dualis jest wyjątkowo odporny na światło zewnętrzne. Wersja ze zintegrowanym filtrem polaryzacyjnym jest idealna w przypadku obiektów szczególnie silnie odbijających światło. Konfigurację nowego Dualisa przeprowadza się za pomocą przyjaznego dla użytkownika oprogramowania ifm Vision Assistant. Nawet skomplikowane zadania można zaprogramować bardzo szybko. Opcje konserwacji w czasie rzeczywistym gwarantują niezawodność zapewnienia jakości. Przykładowo, zmiany w stale kontrolowanej ostrości i jasności obrazu sygnalizują niepożądane niedopasowanie. W takim przypadku czujnik może automatycznie wygenerować ostrzeżenie.
Szybka wymiana dzięki karcie pamięci
Dualis jest wyposażony w kartę pamięci ifm, na której zapisywane są parametry. W przypadku wymiany urządzenia, dzięki karcie można łatwo przenieść wszystkie ustawienia i parametry operacyjne do nowego Dualisa. To znacznie zmniejsza ilość koniecznej do wykonania pracy.
