Dokładne wykrywanie bardzo małych obiektów dzięki zastosowaniu laserowych czujników widelcowych
- Dokładny laser zapewnia bezbłędne wykrywanie najmniejszych obiektów o średnicy od 30 µm
- Szybkie ustawienie: bez konieczności osiowania nadajnika i odbiornika
Zwiększone możliwości dzięki IO-Link
- Czujnik sygnalizuje zanieczyszczenie dzięki ciągłemu monitorowaniu ilości światła
- Tryby pracy czujnika (duża moc, szybkość, wysoka rozdzielczość) można ustawiać w zależności od konkretnego zastosowania
Najwyższa dokładność - liczy się w mikrometrach
Nowe urządzenia ifm służą do monitorowania części w mechanice precyzyjnej, medycynie lub innych branżach wykorzystujących mikroskopijne elementy. Dzięki zastosowaniu precyzyjnego lasera optyczny czujnik widelcowy wykrywa nawet obiekty o średnicy zaledwie 30 μm.
Ustawienia i diagnostyka przy użyciu IO-Link
Dzięki IO-Link możliwe jest również dostosowanie ustawień czujnika do konkretnego procesu lub wymogów środowiskowych. W trybie dużej mocy wysokie natężenie światła zapewnia niezawodne wykrywanie obiektów nawet w trudnych warunkach. W trybie szybkości można uzyskać częstotliwości przełączania nawet 10 000 Hz. Ponadto czujnik wykrywa zanieczyszczenie własnej soczewki, aby umożliwić jej niezwłoczne oczyszczenie i zapewnić niezawodność procesu.
