Centreerstuk voor sondestaaf
E43350
CENTERING DEVICE LR PROBE
Centreerstuk voor sondestaaf
E43350
CENTERING DEVICE LR PROBE
- Voor de betrouwbare centrering van niveausensoren
- Groot temperatuurbereik
Toepassingsgebied
| Uitvoering | voor meetstaven LR, voor bypass- en interne pijpdiameter 30...100 mm |
|---|
Mechanische eigenschappen
| Gewicht [g] | 8,4 |
|---|---|
| Materialen | PEEK-GF30 |
Toebehoren
| Leveringsomvang |
|
|---|
Opmerkingen
| Verpakkingseenheid | 1 stuk |
|---|
ifm electronic gmbh • Friedrichstraße 1 • 45128 Essen — Technische wijzigingen zijn voorbehouden zonder aankondiging! — NL-NL — E43350-00 — 28.10.2015 —
